Изучение поверхности полупроводника с помощью сканирующего электронного микроскопа

РЕФЕРАТ

Дипломна робота: 43 сторінок, 12 малюнків, 1 таблиця, 6 джерел.

Об`єктом дослідження є поверхня металевих та напівпровідникових матеріалів за допомогою скануючого електронного мікроскопа.

Методикою досліджень являється реєстрація вторинних електронів та фотонів.

Результати досліджень можуть бути застосовані працівниками, які займаються дослідженнями в області напівпровідникових матеріалів.

RESUME

The graduation research

Подобное:

Изучение свободных колебаний и измерение ускорения свободного падения
Изучение свободных колебаний и измерение ускорения сободного паденияЦель работы : изучение свободных колебаний математического маятн
Индикаторы
Содержание1. ИНДИКАТОРЫ2. ФИЗИОЛОГИЧЕСКИЕ И ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ИНДИКАТОРНОЙ ТЕХНИКИ2.1 Человеческое зрение2.2 Восприятие цвета2.3 Физическ
Инфра и ультра звуки и их использование
Российская Гимназия при Государственном Русском Музее Реферат по физике «Ультра и инфра звуки и их использование» Работу выполнила: См
Ионизирующие излучения
Двадцатый век – век научно-технического прогресса – ознаменовался многими открытиями в областях, о которых человек ранее не имел ни ма
Искусственные спутники Земли
Вступление.Искусственные спутники Земли – космические летательные аппараты, выведенные на околоземные орбиты. Они предназначаются дл
Использование электроэнергии
В РАЗЛИЧНЫХ ОБЛАСТЯХ НАУКИ И ВЛИЯНИЕ НАУКИ НА ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ЭЛЕКТРОЭНЕРГИИ В ЖИЗНИХХ век стал веком, когда наука вторгается во все сфер
Испытание материалов на прочность при ударе
Несколько сотен лет назад весь объем научных знаний был столь мал , что один человек мог подробно ознакомиться почти со всеми основными

Изучение поверхности полупроводника с помощью сканирующего электронного микроскопа

РЕФЕРАТ

RESUME

Категории:

Подобное: