Скачать

Изучение поверхности полупроводника с помощью сканирующего электронного микроскопа

`

РЕФЕРАТ


Дипломна робота: 43 сторінок, 12 малюнків, 1 таблиця, 6 джерел.


Об`єктом дослідження є поверхня металевих та напівпровідникових матеріалів за допомогою скануючого електронного мікроскопа.

Методикою досліджень являється реєстрація вторинних електронів та фотонів.

Результати досліджень можуть бути застосовані працівниками, які займаються дослідженнями в області напівпровідникових матеріалів.



RESUME


The graduation research